MSA-500 – O privire în verde a analizelor structurilor MEMS

[:ro]Caracteristici, pe scurt:

  • Achiziţia directă a geometriei pentru măsurările de vibraţii
  • Sursă de lumină verde, utilizând LED integrată în unitatea de control a capului de scanare pentru a obţine performanţe mai bune ale măsurătorilor topografice, rezoluţîi optice mari şi o utilizare mai uşoară
  • Posibilităţi largi de alegere a obiectivelor optice ale microscopului şi distanţe de lucru mai mari
  • Suport pentru semnale de excităţie externe

Aplicaţii:

  • Caracterizarea deplasărilor înafara planului şi în plan a dispozitivelor MEMS
  • Măsurări continue în domeniul frecvenţelor pentru analiză performanţelor dispozitivelor
  • Analiză defectoscopică a microstructurilor şi testări de fiabilitate
  • Testarea, redefinirea şi îmbunătăţirea modelelor utilizate la simulare

Specificaţii tehnice

Descriere

Noul Micro System Analyzer achiziţionează mai bine datele dinamice

Analizorul MSA-500 (Micro System Analyzer) este primul în tehnologia de analiză şi vizualizare a vibraţiilor structurilor şi a topografiei suprafeţelor microstructurilor precum dispozitivele MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems). Prin integrarea unui microscop cu laser scanare (Scanning Laser-Doppler Vibrometry), a unui sistem stroboscopic video microscopic (Stroboscopic Video Microscopy) şi a interferometriei laser (White Light Interferometry), MSA-500 este proiectat pentru a fi o combinăţie de tehnologii all-în-one care să permită clarificarea răspunsului microstructurilor şi topografiei MEMS. Încorporat în sistemele de proiectare şi în ciclul de testare, MSA-500 furnizează informaţîi privitoare la răspunsul precis static şi dinamic 3D pentru a simplifică problematica, îmbunătăţirile şi pentru a scurtă ciclul de producţie, pentru a creşte profitul, performaţele şi pentru a scade costul.

Inspirându-se din nevoile clienţilor privitoare la dezoltarea a noi şi noi dispozitive MEMS, Polytec a îmbunătăşit linia de produse Micro System Analyzer prin introducerea modelului MSA-500 .

Noul instrument incorporează o combinăţie puternică de tehnici de măsurare pentru a caracteriza din punct de vedere static şi dinamic proprietăţîle microstructurilor. Scanning Laser Doppler Vibrometry şi Stroboscopic Video Microscopy pot determina fără contact, rapid parametrii dinamici în planul de măsurare şi înafara planului de măsurare, în condiţiile unei lăţîmi de bandă de ordinul MHz. Interferometria laser cu lumină albă este utilizată pentru analiză topografică cu o rezoluţie sub nanometrică.

 

Informații suplimentare

Producător

Polytec GmbH